西洲渡

一只还没迈入IC领域的小菜鸡

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原理 测试步骤 1、利用四探针测量不同间距（L12、L23、……、L45）相邻金属焊点的电阻（R12、R23、……、R45） 2、以L（um）为横坐标、R（Ω）为纵坐标画线，对其进行线性拟合，其纵坐标截距为2Rc，斜率为Rsh/W。由此得出Rc 3、测量焊点1-3之间电阻R13，可得Re13=（R12+R23-R13）/2，也可测焊点2-4之间电阻R24，可得Re24=（R23+R34-R24）/2，也可测焊点3-5之间电阻R35，可得Re35=（R34+R45-R35）/2，并对Re13、Re24、Re35求平均值得到Re 计算步骤 （W、S单位均为um） 1、特征接触电阻 2、传输
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功能键作用备注左键选中一个图形，如果两个图形交叠的话，单击选中其中一个图形，再单击选中另一个图形，用左键框选，选中一片图形，某个图形要被完全包围才会被选中中键放大（相当于Z+左键）右键调出常用菜单命令滚轮放大缩小版图视图方向键放大缩小版图视图Shift+滚轮左右移动版图视图Shift+方向键鼠标每次移动半个格点距离Ctrl+方向键移动cell使版图边界与视图边界对齐Shift+左键连续选择多个图像，如果不小心选多了，可以用Ctrl+左键减选图形Cadence菜单中大写表示+按Shift，Ctrl写成^F1显示帮助窗口F2保存F3Save a Copy在选取相应工具显示相应属性对话框，可以设置画
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前言 本文转载自测量范德堡法电阻率和霍尔电压 原理 半导体材料研究和器件测试通常要测量样本的电阻率和霍尔电压。半导体材料的电阻率主要取决于体掺杂，在器件中，电阻率会影响电容、串联电阻和阈值电压。霍尔电压测量用来推导半导体类型(n还是p)、自由载流子密度和迁移率。 为确定半导体范德堡法电阻率和霍尔电压，进行电气测量时需要一个电流源和一个电压表。为自动进行测量，一般会使用一个可编程开关，把电流源和电压表切换到样本的所有侧。4200A-SCS参数分析仪拥有4个源测量单元(SMUs)和4个前置放大器(用于高电阻测量)，可以自动进行这些测量，而不需可编程开关。用户可以使用4个中等功率SMU (420
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前言 本文转载自利用LIFT-OFF工艺制作金属电极，仅用于资料备份供个人学习使用。 在材料、微电子等研究课题中，制作高品质的电极是准确反映材料或者器件本身性能的前提条件，为此我们需要制作一个高品质的电极。在此，光刻中剥离（lift-off）工艺是我们制作电极的基础手段。 概述 剥离工艺（lift-off），在衬底上用光刻工艺获得图案化的光刻胶结构或者金属等掩膜（shadow mask），利用镀膜工艺在掩膜上镀上目标涂层，再利用去胶液（又称剥离液）溶解光刻胶或者机械去除金属硬掩膜的方式获得与图案一致的目标图形结构，我们称之为剥离工艺。 与其他图形转移手段相比，lift-off工艺更加简单易行
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前言 本文转载自知乎上Litho wiki的光刻工艺流程（精简版），仅作为资料备份供个人学习使用，著作权归原作者所有。 光刻概念 光刻（光学曝光），是指利用特定波长的光进行辐照，将掩膜板上的图形转移到光刻胶上的过程。 光学曝光是一个复杂的物理化学过程，具有大面积、重复性好、易操作以及成本低等特点，是半导体器件与大规模集成电路制造的核心步骤。 光刻工艺流程： 衬底预处理（Substrate Pre-treatment） * 去除表面污染物（颗粒、有机物、工艺残余、可动离子）以及水蒸气； * 预烘烤至 100~200℃可有助于增强光刻胶与衬底的黏附性； * 对于亲水性衬底（如，SiO
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LCD驱动模块前端设计流程 需求分析 1. 使用Verilog代码完成LCD1602型号的液晶显示屏驱动设计 * LCD驱动模块的上位机为主控系统，下位机为LCD1602液晶显示屏； * 要求LCD驱动模块与主控系统交互时使用APB接口（APB时钟采用64MHz) ； * 该驱动模块工作时钟使用外部时钟（工作时钟采用50MHz) ； * 该模块初始化完成后，它所驱动的LCD1602液晶显示屏默认输出“ABCD至MNOP abcd至mnop”共16*2个英文字符，主控系统可通过APB总线控制液晶显示屏输出的字符； * 该模块内部需要设计使能寄存器，模块每次向LCD1602液晶显示
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问题 上图为一GaN射频器件的基本结构。假如其中的可调变量有： * 栅电极栅脚长度：Lg； * 栅电极栅头长度：Lgh； * 栅-源间距Lgs； * 栅-漏间距Lgd； * 钝化层介电常数εpas； * 棚电极宽度W； * 势垒层厚度tB； * 势垒层AlGaN中Al组分xAl； * 缓冲层背景掺杂浓度nbuf； * 衬底热导率θsub； * 衬底厚度tsub； 论述改变上述参数大小时，对器件直流、小信号、高频噪声和大信号特性的影响，并简单说明影响的物理机制。 公式： 栅电极栅脚长度_Lg_ 根据膝点电压公式可知栅脚长度_Lg_和沟道电阻_Rch_成正比，因此
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前言 苹果手机中的“快捷命令app”可以算是苹果公司官方放出的折腾的渠道，由此有许多的苹果玩家建立了相关论坛和社区，比如捷径社区，里面有不少大神创建的各种快捷指令。 鉴于最近广州疫情爆发，各个办公楼宿舍楼都要求出示健康码。每次在门口都得等很久，尤其是一手拿快递一手扫码出示的时候，于是我便找了网上的一些大神的作品，做了一些小小的改动。 原理 在这里我就讲个大概的原理，某大神公布在gitee上了小程序的地址，里面包含的信息大概就是两个词典。 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 { "miniapp": { "name": [
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TCL基础入门 引言 * TCL（Tool Command Language）是一种解释执行的脚本语言（Scripting Language）。它提供了通用的编程能力：支持变量、过程和控制结构；同时TCL还拥有一个功能强大的固有的核心命令集。 * 由于TCL的解释器是用一个C\C++语言的过程库实现的，因此在某种意义上我们又可以把TCL看作一个C库，这个库中有丰富的用于扩展TCL命令的C\C++过程和函数，每个应用程序都可以根据自己的需要对TCL语言进行扩展。 * 扩展后的TCL语言将可以继承TCL核心部分的所有功能，包括核心命令、控制结构、数据类型、对过程的支持等；TCL良好的可扩展性
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概述 “验证如果没有量化，那么就意味着没有尽头。” 伴随着复杂SoC系统的验证难度系数成倍增加，无论是定向测试还是随机测试，我们在验证的过程中终究需要回答两个问题： * 是否所有设计的功能在验证计划中都已经验证？ * 代码中的某些部分是否从未执行过？ 覆盖率就是用来帮助我们在仿真中回答以上问题的指标，已经被广泛采用，作为衡量验证过程中的重要数据 一旦通过覆盖率来量化验证，我们可以在更复杂的情况下捕捉一些功能特性是否被覆盖： * 当我们在测试X特性的时候，Y特性是否也在同一时刻被使能和测试？ * 是否可以精简我们已有的测试来加速仿真，并且取得同样的覆盖率？ * 覆盖率在达到一定的
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线程控制 并行线程 * Verilog中与顺序线程begin…end相对的是并行线程fork…join。 * SV引入了两种新新的创建线程的方法，fork..join_none和fork…join_any。fork…join需要所有并行的线程都结束以后才会继续执行。 fork…join_any则会等到任何一个线程结束以后就继续执行。 fork…join_none则不会等待其子线程而继续执行。 需要注意的是，fork..…join any和fork…join_none执行后，其一些未完成的子程序仍将在后台运行。 如果要等待这些子程序全部完成，或者停止这些子程
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请简述弹道输运、相位干涉、普适电导涨落、弱局域化、载流子热化、隧穿现象以及单电子现象与库伦阻塞的物理含义 弹道输运 首先在欧姆型导体中载流子的输运是扩散输运。所谓扩散输运就是导体中电子在电场作用下的运动不断受到各种散射机制的散射作用，电子的迁移过程是一个扩散过程。如果一个介观导体样品，其尺度小于载流子的平均自由程，在载流子输运过程中很可能就不会受到散射而通过样品。由于没有散射的作用，电子的运动仅遵从牛顿定律，被称为弹道(ballistic)输运，这种情况下，电子只有碰到了边界才会改变运动方向。 能够产生弹道输运的导体称为弹道导体，即不存在对载流子散射的导体。在一般的介质中电阻一般是由电子散
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概述 * 随着设计越来越大，要产生一个完整的激励来测试功能也变得越来越困难。定向激励的测试方法早已经无法满足检查功能完整性的要求。 * SoC的集成度提高带来的模块之间交互的复杂度也是指数攀升，这就使得无法预测接下来用户使用过程中会发生什么样的状况。 * 随机-约束，两个词组合在一起就构成了目前动态仿真验证的主流方法。 * 随机约束测试（CRT，Constrained-Random Test）即能够产生你感兴趣的、你想不到的的测试向量，通过回归测试、替随机种子的方式来提高单位测试用例的覆盖率收集效率。 * 随机测试带来的额外负担是环境的复杂度会提高，因为从环境组件上考虑不再只需要发送
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类的概述 类的三要素：类的封装、类的继承、类的多态 * 类是一种可以包含数据和方法（function，task）的类型。 * 例如一个数据包，可能被定义为一个类，类中可以包含指令、地址、队列ID、时间戳和数据等成员。 * packet这个类可以在其中对这些数据做初始化，设置指令，读取该类的状态以及检查队列ID。 * 每一个packet类例化的具体对象其数据成员都可能不相同，然而packet类作为描述这些数据的抽象类型，将其对应的数据成员和操作这些数据成员的方法都定义在其中。 术语 * 类（class）：包含成员变量和成员方法。 * 对象（object）：类在例化后的实例。 *
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前言 在学习了SystemVerilog之后，检验学习成果最有效的方式就是真正的去实验一个项目，以下就是我的一个关于Router的验证过程。实验代码我会上传到我的GitHub仓库中，有需要的可以下载。 设计模块介绍 实验中的待测试模块（DUT）是一个16输入，16输出的路由器，这个路由器的功能是把数据通过各个输入端（Input）发送到任意输出端（Output）。下面是最终完成的整个验证平台示意图。 我们需要建立的几个文件： * 顶层（Top）文件：router test top.sv * 接口（Interface)文件：router_io.sv * 待测试（DUT）文件：route
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